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奧林巴斯顯微鏡，普通光學(xué)透鏡系統(tǒng)的缺陷（畸變）
顯微鏡等光學(xué)儀器的透鏡扭曲的形象的錯誤產(chǎn)生的球面透鏡表面的幾何形狀的缺陷（通常稱為“像差”）與由各種機制所困擾。有三個主要的來源的非理想透鏡作用（錯誤），在顯微鏡觀察。透鏡錯誤的三個主要類別，與波陣面，并相對于焦平面的顯微鏡的光學(xué)軸的方向。這些包括如色差和球面像差的光軸上透鏡的錯誤，主要離軸彗差，像散表現(xiàn)為錯誤，和像場彎曲。第三類的像差，在立體顯微鏡的變焦透鏡系統(tǒng)，常見的是，其中包括兩個桶形畸變和
2020-09-04
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尼康顯微鏡，立體顯微鏡簡介
凱魯賓奧爾良1671被設(shè)計和建造的第一個立體式顯微鏡具有雙目鏡和匹配物鏡，但實際上是一個系統(tǒng)，只能由應(yīng)用輔助鏡片實現(xiàn)圖像勃起偽立體儀器。奧爾良設(shè)計的一個主要缺點是，左側(cè)的圖像被投射到右目鏡和形象工程的左目鏡右側(cè)。它不是直到150年后，當(dāng)查爾斯惠斯通爵士寫了一篇論文，雙目視覺立體顯微鏡有足夠的利益刺激進(jìn)一步開展工作提供動力。在十九世紀(jì)中葉，弗朗西斯·赫伯特·溫漢姆倫敦設(shè)計的第一個真正意義上成功的體視
2020-09-04
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尼康顯微鏡，熒光共聚焦顯微鏡的關(guān)鍵方面
我們都知道，熒光顯微照片揭示了在組織中的分子標(biāo)記的位置，對不對？好吧，也許不是。 事實上，你可以很確定，在熒光模式大多數(shù)激光掃描共聚焦顯微鏡測量的是在某一特定時間所收集的光子數(shù)的某些功能。 我們希望這是一個或兩個有趣的參數(shù)的精確測量 - 局部分析物的濃度或局部離子濃度。 事實上，許多因素會影響實際存儲在計算機存儲器中在任何給定時刻的數(shù)值。一個通用的激光掃描共聚焦顯微鏡示出了一些在本文中提及的“3
2020-09-04
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奧林巴斯顯微鏡成像，接近為中心的影像增強器
圖像增強器被開發(fā)用于軍事用途，以提升我們的夜視和經(jīng)常被稱為晶圓管或接近為重點增強器 。 它們具有平坦的陰極通過一個微通道板（MCP）電子倍增器和MCP上的相反側(cè)的磷光輸出畫面的輸入側(cè)的小間隙隔開。大量的電壓是跨越這需要精心施工的設(shè)備，以確保他們不被污染并能保持較高的內(nèi)部真空的光陰，磷光輸出畫面，和MCP之間的小間隙存在。 近程聚焦增強器不受幾何失真或陰影，因為光電子按照陰極，輸出畫面，并在MCP
2020-09-04
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![奧林巴斯顯微鏡：熒光顯微鏡攝影的錯誤]()
奧林巴斯顯微鏡：熒光顯微鏡攝影的錯誤
顯微攝影在熒光照明條件下，提出了一套獨特冒充顯微鏡的特殊問題的情況。曝光時間往往是非常長的（在某些情況下運行多少秒到幾分鐘），試樣的熒光可能會在曝光過程中褪色，全黑的背景往往在不經(jīng)意間光信號米建議過度曝光。此外，熒光的標(biāo)本發(fā)出他們自己的光，和顆粒位于所需的焦點平面的上方和下方往往輻射光造成圖像細(xì)節(jié)模糊。盡管熒光圖像可能會顯得明亮?xí)r，通過顯微鏡目鏡（由于人眼對光線的敏感度的精致），它們通常需要較長的
2020-09-03
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奧林巴斯顯微鏡成像，什么是EBCCDs？
電子轟擊電荷耦合器件（EBCCD）是圖像增強器和CCD攝像機是為在非常低的光水平成像的標(biāo)本在熒光顯微鏡下可使用的混合體。 在該裝置中，光子被類似于在圖像增強器的光電檢測。 所釋放的電子被跨越的薄型背照式CCD的背面?zhèn)鹊拈g隙和沖擊加速。這些高能電子產(chǎn)生多電荷在CCD上產(chǎn)生幾百溫和上升。 圖1示出的電子轟擊在CCD的光電子加速由高電壓梯度（1.5?2.0千伏特），直接影響到背照式CCD于視頻速率操作
2020-09-03
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尼康顯微鏡接近聚焦影像增強
圖像增強器開發(fā)增強夜視軍事用途，通常稱為晶片管或近聚焦像增強器。他們有一個扁平的光電陰極的微通道板的輸入端的一個小間隙分開（MCP）電子倍增器和MCP的反面磷光輸出屏幕。操作指南，使用增益滑塊調(diào)整對電荷耦合器件表面電子數(shù)。光子（黃球）進(jìn)入窗口導(dǎo)致電子的生產(chǎn)（紅色球）的光電陰極，然后直接進(jìn)入MCP，在那里它們通過光纖導(dǎo)光的CCD芯片上設(shè)有面對光波導(dǎo)光電二極管的表面的大門。大量的電壓是目前在小的差距
2020-09-03
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奧林巴斯顯微鏡共聚焦顯微鏡的物鏡結(jié)構(gòu)
任何常規(guī)光學(xué)顯微鏡的配置，物鏡是在確定圖像的信息內(nèi)容的系統(tǒng)中最關(guān)鍵的部分。 精細(xì)標(biāo)本細(xì)節(jié)的對比度和分辨率，其中的信息可以被獲得的樣品內(nèi)的深度，和圖像領(lǐng)域的橫向范圍都是由物鏡的、用于觀測的具體條件下的性能確定的設(shè)計。 額外的要求是在共聚焦掃描技術(shù)對物鏡，在這個關(guān)鍵的成像組件也可作為照明聚光鏡和經(jīng)常需要進(jìn)行高精度在很寬的波長范圍內(nèi)和在非常低光水平，不引入不可接受的圖像退化的噪聲。 無論任何
2020-09-03
